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2025-03-21
+2024-11-13
+2024-10-23
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電阻率表征技術是典型的金屬、合金相變行為研究手段，比如在鋼中的碳運動行為分析、或是合金析出動力學研究、以及形狀記憶合金的預相變行為表征的方面。電阻率對這些相變行為則非常敏感，應用電阻率手段研究合金析出動力學行為也是非常重要的手段，HTRT-1000型導電材料高溫電阻率測試儀是一種可以對合金時效析出過程全時段實現(xiàn)監(jiān)控的手段。
GWYDR-500型高溫高壓電容測試系統(tǒng)是一款專為實驗室研制的高精度高溫高壓壓電容測試系統(tǒng)，突破了傳統(tǒng)的測量方式，采用變頻電源技術，利用單片機和現(xiàn)代化電子技術進行自動頻率變換、模/數(shù)轉換和數(shù)據(jù)運算；達到抗干擾能力強、測試速度快、精度高、全自動數(shù)字化、操作簡便；廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設備及相關絕緣材料的介損和介電常數(shù)的測量。
GWTF-300高溫鐵電材料性能測試系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統(tǒng)，旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發(fā)的一套鐵電測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實現(xiàn)了高溫測試，而且在電壓和頻率上進行了提高，對我們的鐵電材料研究和測試帶來更加重要的幫助。該系統(tǒng)可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關特性等性能的測試。
GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導體的導電性能，該系統(tǒng)可以*實現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。
HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb），三元化合物半導
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